苏州邦昕仪器设备有限公司
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发布时间:2024-03-22 10:58:06
该仪器通常由以下几个主要部件组成：
1.X射线发生器：产生高能X射线束以照射样品表面。
2.样品支架：用于固定样品并使其与X射线束垂直。
3.荧光检测器：检测通过样品表面的荧光辐射信号。
4.信号处理器：将检测到的荧光信号转换为厚度读数并显示在屏幕上。
使用X射线荧光镀层测厚仪进行测量时，首先需要将待测样品放置在样品支架上，然后打开X射线发生器开始照射。当高能X射线穿过被涂层物并撞击其基底时，会激发出荧光辐射信号，这些信号随后被荧光检测器捕获，并通过信号处理器进行分析和计算。
信号处理器会根据荧光信号的能量和强度来确定被涂层物厚度，同时还可以计算出其成分。由于不同元素的原子结构不同，所产生的荧光信号也有所差异，因此可以通过比较荧光信号的强度和能量来确定被涂层物的成分和厚度。
X射线荧光镀层测厚仪的优点在于它可以快速、准确地测量各种类型的涂层材料，并且可以在非破坏性的情况下进行测量。它广泛应用于电子、航空航天、汽车、建筑等领域，以确保涂层的质量和稳定性，并用于对产品进行品质控制和质量保证。
X射线荧光镀层测厚仪产品指标：
测厚技术：X射线荧光测厚技术
测试样品种类：金属镀层，合金镀层
测量下限：0.003um
测量上限：30-50um(以材料元素判定)
测量层数：10层
测量用时：30-120秒
探测器类型：Si-PIN电制冷
探测器分辨率：145eV
高压范围：0-50Kv，50W
X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；
光管靶材：Mo靶；
滤光片：3种自动切换；
CCD观察：260万像素
微移动范围：XY15mm
输入电压：AC220V，50/60Hz
测试环境：非真空条件
数据通讯：USB2.0模式
准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm
软件方法：FlexFP-Mult
工作区：开放工作区自定义
样品腔：330×360×100mm
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