苏州邦昕仪器设备有限公司
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发布时间:2021-09-24 17:20:28
常规镀层厚度分析仪的原理之覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。
这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，大多适合使用于抽样检验。X射线与β射线法是无接触无损测量，可是装置复杂昂贵，测量范围较小。因为有放射源，使用者一定要遵守射线防护规范。X射线法可以测量薄镀层、双镀层以及合金镀层。β射线法适合镀层与底材原子序号大于三的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚的时候采用。
随着技术的日益进步，尤其是近年来引入微机技术之后，选择磁性法与涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达零点一微米，精度可以达到百分之一，有了大幅度的提升。它运用范围广，量程宽、操作简单并且价格低，是工业与科研使用广泛的测厚仪器。选择的是无损方法既不会破坏覆层也不会破坏基材，检测速度快，可以让大量的检测工作经济地进行。
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